专利名称：影像信号处理装置及像素缺陷的检测方法专利类型：发明专利发明人：渡边透
申请号：CN00133718.1申请日：20001027公开号：CN1295255A公开日：20010516
摘要：影像信号处理装置及像素缺陷的检测方法,用以有效地检测出包含在影像信号中的缺陷像素。利用缺陷检测电路12将目标像素影像信号与其周边像素影像信号比较,检测出候选缺陷像素并将其地址数据存储在位置存储器13。依据位置存储器13存储的地址数据,缺陷判断电路14重复判断缺陷像素,从其判断结果的连续性决定缺陷像素地址数据后,将其存储在缺陷存储电路15。针对该缺陷像素的地址数据,缺陷修正电路16修正影像信号Y(n),产生影像信号Y’(n)。
申请人：三洋电机株式会社
地址：日本大阪府
国籍：JP
代理机构：柳沈知识产权律师事务所
代理人：黄敏
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