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气压扫描半导体激光器线宽测试仪[实用新型专利]

2020-03-23 来源:榕意旅游网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:气压扫描半导体激光器线宽测试仪专利类型:实用新型专利

发明人:汪开源,高中林,章建洛,孟晓晶申请号:CN87208603申请日:19870525公开号:CN87208603U公开日:19880511

摘要:气压扫描半导体激光器线宽测试仪是一种激光器参数测试仪器,它由望远镜系统、密封气压室、F-P标准具和气压控制系统及压力传感器等组成;可以用x-y记录仪直接画出激光的线形和模式,也可以同时用Z-80单板机直接读出激光器线宽的数值;具有结构简单、操作方便、性能稳定和成本低等优点,对环境条件无特殊要求,测量精度较高;不仅可以测量半导体激光器线宽,还可以制成干涉仪,用于测量气体折射率和微位移。

申请人:南京工学院

地址:江苏省南京市四牌楼2号

国籍:CN

代理机构:南京工学院专利事务所

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