专利名称：纳米颗粒浓度及几何特征量联合分布的测量方法专利类型：发明专利发明人：白本锋,杨国策申请号：CN201510441270.0申请日：20150724公开号：CN105092444A公开日：20151125
摘要：本发明提供一种纳米颗粒浓度及几何特征量联合分布的测量方法，包括：提供一光谱测量系统；校准光谱测量系统；利用标准物质对光谱测量系统标定；将测量样品池中标准纳米颗粒更换为待测纳米颗粒，参考样品池放入待测纳米颗粒的分散溶剂；然后再将参考样品池放空，分别测量待测纳米颗粒样品，得到待测纳米颗粒的相对透过率、透过率以及90度散射光与参考光光强比值；获得待测纳米颗粒90度散射光谱；构建待测纳米颗粒几何模型，形成标准光谱数据库；创建逆问题求解模型，并求解逆问题，将测量得到的光谱与待表征参数和标准光谱数据联系起来；计算纳米颗粒浓度及几何特征量联合分布，获得待表征参数。
申请人：清华大学
地址：100084 北京市海淀区北京100084-82信箱
国籍：CN
代理机构：深圳市鼎言知识产权代理有限公司
代理人：哈达
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